Международная группа ученых при участии исследователей из МГУ провела работу, в результате которой удалось выяснить, как именно нужно измерять один из важных параметров сверхпроводников. Результаты исследования были опубликованы в журнале Nanoscale Research Letters.
Суть работы состоит в теоретическом исследовании тонких эффектов, имеющих место в контактах двух сверхпроводников. Сверхпроводники — это материалы, которые при низких температурах имеют нулевое сопротивление и выталкивают из себя магнитное поле. Самый простой способ их исследовать — надломить проволочку из сверхпроводника и измерить особенности вольт-амперной характеристики (они имеют вид чередующихся максимумов и минимумов). По значениям этих максимумов (минимумов) можно судить о важном параметре сверхпроводника — величине его параметра порядка, определяющей, в том числе, температуру сверхпроводящего перехода.
В своей работе ученые показали, что учет влияния тонкого деградированного слоя сверхпроводника, зачастую находящегося на его поверхности, снимает это противоречие (выбор между измерением максимумов и минимумов) — максимумы плавно переходят в минимумы.
Особенностью данной работы является интернациональный коллектив ее участников: она объединила ученых из России, Германии и с Украины. «Естественным развитием данной работы является изучение сверхпроводящих контактов из новых необычных сверхпроводников, используя методы, разработанные моей научной группой», — заключает один из авторов статьи Игорь Девятов, ведущий научный сотрудник отдела микроэлектроники НИИ ядерной физики имени Д.В. Скобельцына.
